X-Işınları Difraktometresi - X-ray Diffraction (XRD) - İnce Film

Marka: RIGAKU Model: SmartLab 9kW

X-ışını difraktomertesi, malzemelerin yapısını atomik veya moleküler düzeyde elde etmek için kullanılan ve malzemeye zarar vermeyen bir tekniktir. Numuneye odaklanmış monokromatik bir X-ışını ile yüksek çözünürlüklü girişim desenleri ölçülür. Saçılan yoğunluğu difraksiyon açışının bir fonksiyonu olarak ölçerek elde edilen desen, atomik yapı, latis parametresi ve kimyasal bağlar hakkında bilgi verir. XRD'nin uygulamaları arasında faz belirleme, kristalografi, farmasötik araştırmalar, yarı iletken kusurları belirleme, gerinim ve stres analizi bulunur. Tuzlar, metaller, mineraller, yarı iletken ince filmler, organik ve inorganik nanomalzemeler, biyolojik moleküller başta olmak üzere birçok alanda araştırma olanağı sağlamaktadır.
Özellikler:
9 kW yüksek güçlü X-ray jeneratörü
Brag Brentano, paralel ışın ile tarama
Reciprocal Space Mapping ( Haritalama)
SAXS (Sıvı içerisinde bulunan nanopartikül büyüklüğü hesaplama (100 nm-200 nm arasında ki örnekler))
İnce Film Kalınlık ,Yoğunluk ve Pürüzlülük Analizi (Reflectivity )
Faz ve Yapı Analizi (İnce film , polimer ve toz numuneler)
Stress Ölçümü (Basma-çekme değerleri hesaplanması) Ölçümü istenilen numunenin Young’s modulus (MPa) değeri bilinmelidir.
Texture Ölçümü

Analiz Talebi Oluştur Proforma Oluştur