X-Işınları Difraktometresi - X-ray Diffraction (XRD) - Toz Numune
Marka: PANalytical Model: Xpert Pro
X-ışını difraksiyonu, malzemelerin kristallografik özelliklerinin ve içerdikleri fazların belirlenmesini sağlayan hasarsız analiz yöntemidir. Toz numunelere uygulanan X-ışını difraksiyonu sonucu kristal yapısının yanısıra, tane boyutu ve tercihli yönlenme gibi özellikler belirlenebilir. Aynı zamanda, içerdiği fazlar hakkında bilgi sahibi olunmayan numunelerin analizi sonucunda elde edilen verilerin ilgili veri tabanı ile karşılaştırılması sonucu numunenin içerdiği fazlar belirlenebilir. Rietveld analizi gibi yöntemlerin kullanılmasıyla numunenin içerdiği bileşiklerin göreceli olarak miktarsal oranları belirlenebilir.
Analiz yapılacak olan numuneler toz veya katı halde olabilir. Toz numuneler için numunenin yoğunluğuna bağlı olarak 1-5 gr arası numune gereklidir. Katı numunelerin ise yüzeylerinin düz ve en az 1,5x1,5 boyutlarında olması gerekmektedir.
