Atomik Kuvvet Mikroskobu - Atomic Force Microscopy (AFM)
Marka: NANOMAGNETICS INSTRUMENTS Model: ezAFM
Atomik kuvvet mikroskobu, tarama ucu ile taranan yüzeyin arasındaki elektrostatik kuvvetlere dayanarak yüzeyin nano-boyut mertebesinde topografik görüntüsünün elde edildiği yüzey hassas bir karakterizasyon yöntemidir. Yüzey topografisi, yüzeyin tarama ucu tarafından satır satır taranırken uçtan yansıyan lazerin fotodedektör tarafından toplanıp işlenmesi ile oluşturulur.
| Tarama Modu | Tapping mod |
| Tarama Alanı | 40x40x4 µm (Z ekseninde 0,02 nm çözünürlük) |
| Örnek Boyutlandırması | Maksimum 10 mm çaplı dairesel veya 7x7x5 mm kare boyutlu örnekler |
| Örnek Çeşitleri | İnce film kaplamalar, Metalik, polimerik ve seramik malzemeler (Toz örnekler kabul edilmeyecektir.!!) |
